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眼前此刻 发表于 2012-6-22 17:34
说了这么久,第一次说到点子上了
BT和毁硬盘不存在必然的关系,BT使用的必然是物理磁盘IO增加,物理磁 ...
回头看了几次
终于明白你想表达的东西
是不是“有BT,所以IO多,所以当你在IO更多的时候遇上不小心的碰触就可能损坏?”
那么你误会了很厉害的东西。首先,不是io时偶遇不小心会造成损坏,而是“磁头伸出”遭遇不小心,前者概率极小,但后者,很可惜,就算你不用BT,磁头伸出的时间还是远远大于缩回时间。因为磁头伸缩技术寿命是一定的,所以厂商不会吧磁头停靠的时间阈值设的很低,“参见C1门事件”,在正常使用过程中,由于各种应用程序都会读盘,所以基本磁头也是不怎么回缩的,BT只是把不怎么回缩变为不回缩。
我们不妨把坏道出现设为为P=P1×P2×P3这样一个简易模型,P1是磁盘体质,这是你不能改变的。P2是你不小心,这是可以减少(排除不可抗,甚至可以是零不是么),P3是磁头在外时间比,这个值在BT下可以认为1,在非BT下可以说是很接近1(比如你的SF机制就会不停读盘,那么磁头也没空回缩),即使使用RAMDISK,你也不可能把这个值压到很低的地步!
这么说理解?如果这样你再扯BT“可能增大”毁盘“几率”的所以Ramdisk可以保护,那我还是建议您,把你的磁盘供起来比较好 |
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